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Webinar: Techniken zur Kontaminationsanalyse von Dünnschichten und Wafern
Dienstag, 28. April, 14–15 Uhr (EEST)
Nehmen Sie an diesem Experten-Webinar teil, um mehr über die analytischen Techniken zur Kontaminationsanalyse zu erfahren: VPD ICP-MS, TXRF, SIMS, ATD-GC-MS und weitere Verfahren. Unsere Experten vermitteln Ihnen Einblicke in die Funktionsweise der verschiedenen Techniken, ihre Anwendungsbereiche und ihre Grenzen.
In der einstündigen Sitzung erhalten Sie Einblicke in mindestens folgende Themen:
Wie man die Methode entsprechend der Kontaminationsart (Metall-, organische und Partikelkontamination...) auswählt
Analyse von Bulk- vs. lokalisierter Kontamination
Tiefenprofilierung von Verunreinigungen
Im Anschluss an die Präsentation besteht die Möglichkeit, Fragen zu stellen. Das Webinar wird über Zoom abgehalten, sodass Fragen während der Q&A-Runde anonym gestellt werden können. Geben Sie dazu beim Beitreten zur Sitzung einen Nicknamen ein.
Verfügbare Aufzeichnungen
Optimierung der EU-MDR-Zulassung: Nutzung Ihrer präklinischen und klinischen FDA-Daten (gemeinsam mit Mantra Systems veranstaltet)
NIAS in Lebensmittelkontaktmaterialien: Prüfung und Risikobewertung
Bisphenol-Prüfung von Lebensmittelkontaktmaterialien: alles, was Sie wissen müssen
Bleiben Sie bei PFAS auf dem neuesten Stand: Überblick über Vorschriften und Analysemethoden (gemeinsam mit Regartis-Beratern veranstaltet)
Bleiben Sie der PFAS-Kurve voraus, Teil 2: Fallbeispiele der PFAS-Analytik und weitere praktische Hinweise (gemeinsam mit Regartis-Beratern veranstaltet)
Alle Aufnahmen sind in englischer Sprache.